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第三版內容除仍秉持以TEM/STEM實務為主外,基礎理論為輔,修飾部分文字上的準確性,改換更佳的圖像,並添加一些新案例。希冀讀者能從此版的內容中獲得更進一步的TEM/STEM技術。
本書的內容為TEM分析實務,可做為教育訓練材料,以穿透式電鏡初學者和材料分析工程師為主要對象,內容包含三點異於其他電鏡書籍的特色:
1. 以穿透式電鏡基本原理和材料分析實務為主。
2. 介紹近代加入個人電腦控制與輔助的穿透式電鏡的操作方法。
3. 介紹二十一世紀後才開始在台灣半導體材料分析盛行的電子能量損失能譜術。
後兩項在台灣中文電鏡教科書中都還尚未被提及。
鮑忠興
1960年生於台灣澎湖縣,1982年交通大學機械系畢業,入中山大學材料科學工程研究所,開始正式接觸TEM,1984年獲碩士學位,1986年退伍後入工研院材料所精密陶瓷部門,工作主要內容為用TEM研究精密陶瓷燒結後的顯微結構,達到改善精密陶瓷性質的目的。1989年赴美國亞利桑納州立大學(ASU)材料科學工程研究所攻讀博士,於1994年取得博士學位,並留在該校固態科學中心(CSSS)從事一年博後研究。1995年六月返國進工研院微結構分析實驗室,歷任研究員、主任等職。2001年入職聯電故障分析部門,歷任資深工程師,經理,部經理等職。2005~2011年擔任TEM代理商超泰科技顧問,2011年任職閎康科技TEM部門副處長,2013年轉職成功大學微奈米科技研究中心副研究員,2015年起入職宜特科技迄今。凡從事TEM材料分析工作四十年有餘。
劉思謙
1974年生於台北市。1994國立台北工專材料與資源工程科畢業,於同年入伍服役。1997年考取國立成功大學材料科學與工程研究所碩士班,於1999年碩士學位結束前開始接觸TEM。同年考取國立交通大學材料科學與工程研究所博士班後,承蒙鮑忠興博士有系統的教導TEM的相關知識與操作技巧,2003年取得國立交通大學工學博士學位。2003至2005年進入台灣積體電路股份有限公司服務,歷任良率改善服務部、故障分析部門的工程師與主任工程師等職。2005至2014年間在國立台灣大學凝態科學中心擔任博士後研究員與助研究學者,繼續從事電子顯微鏡材料分析工作。2014至2023年服務於美國馬里蘭州馬里蘭大學大學公園市分校奈米中心SEM/TEM教員。2023年二月起服務於美國賓夕法尼亞州伯利恆市里海大學功能材料與元件中心TEM/FIB經理。
Chapter 1 穿透式電子顯微鏡結構與功能
Chapter 2 電子繞射
Chapter 3 影像
Chapter 4 掃描穿透式電鏡與高分辨高角環形暗場像
Chapter 5 成份分析
Chapter 6 TEM試片製備
































